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本文標題："礦物試樣的元素的特征定量分析圖像顯微鏡"
新聞來源：未知 發(fā)布時間：2015-8-2 13:12:44 本站主頁地址：http://www.027toilet.cn
礦物試樣的元素的特征定量分析圖像顯微鏡
電子探針分析
由電子槍發(fā)射出來的高速電子，經(jīng)過電磁透鏡聚集成極細的電
子束，即所謂電子探針轟擊欲測礦物的表面，其中一些電子背散
射掉，稱為背散射電子，其余的電子進入礦物中，隨著進入的深
度電子能量就逐漸降低，同時激發(fā)出礦物所含元素的特征X射線
，最后余下來的電子為礦物所吸收，這些電子稱為吸收電子。
高速電子進入試樣后轟擊組成礦物的元素的原子，使該原子內(nèi)
層電子被轟擊，高能外層電子為了補償跳出的電子而向低能內(nèi)層
軌道躍遷，放出多余的能量，遂產(chǎn)生特征X射線，由于不同元素
的原子結(jié)構(gòu)不同，電子躍遷放出的能量也不同，所產(chǎn)生的特征X
射線的波長也不同，因此每一元素的特征X射線波長是固定的，
將礦物被高能電子轟擊所產(chǎn)生的特征X射線投至一已知面網(wǎng)間距
的晶體定向切片上，轉(zhuǎn)動分光晶體，即可檢出某一波長的特征X
射線，繼續(xù)轉(zhuǎn)動分光晶體，就能一一測出試樣中所含元素發(fā)射的
不同波長的特征X射線，從而定出所屬的元素，達到定性分析之
目的。
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