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本文標(biāo)題："光學(xué)顯微鏡與電鏡之間存在放大倍數(shù)方面的差距"
新聞來源：未知 發(fā)布時間：2014-5-27 17:41:05 本站主頁地址：http://www.027toilet.cn
光學(xué)顯微鏡與電鏡之間存在放大倍數(shù)方面的差距
由于透射電鏡采用復(fù)型技術(shù)來分析研究斷口形貌時，很難將所觀察到的部位與
實際斷口試樣上的位置或方向一一對應(yīng)起來，所以給分析帶來很大困難;再者，因為
銅網(wǎng)的網(wǎng)格占去了很大的面積，使斷口被觀察到的范圍很窄。因此，目前廣泛采用掃
描電鏡來分析研究斷口形貌特征。
在斷口分析中，使用掃描電鏡對斷口試樣上的同一部位，可以進(jìn)行數(shù)倍到數(shù)萬倍
連續(xù)觀察，即能彌補(bǔ)光學(xué)顯微鏡與透射電鏡之間存在放大倍數(shù)方面的差距。當(dāng)聚焦
深度與透射電鏡相同時，其分辨能力大約為10一30nm左右。另外，從電子圖像成像
質(zhì)量及清晰程度采看，掃描電鏡達(dá)不到透射電鏡的水平。然而，掃描電鏡可以省掉復(fù)
雜的復(fù)型技術(shù)，直接觀察斷口實物，但所觀察的斷口試樣，其尺寸是有限的，所以必須
將其斷口切割成適當(dāng)?shù)某叽纭Ｈ舨辉试S切割，可用醋酸纖維膜(即AC紙)復(fù)型后再
噴上碳或金屬，然后放人掃描電鏡中觀察。
由此可見，透射電鏡與掃描電鏡同是進(jìn)行斷口分析的主要工具，但各有優(yōu)缺點。
目前的電子顯微斷口學(xué)，就是以這兩種電子顯微鏡為基礎(chǔ)建立起來的。
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