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本文標(biāo)題："測(cè)厚儀的原理-鍍層的厚度測(cè)量工具顯微鏡"
新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2014-3-1 21:14:37 本站主頁(yè)地址：http://www.027toilet.cn
測(cè)厚儀的原理-鍍層的厚度測(cè)量工具顯微鏡
磁性測(cè)厚儀
這種儀器主要用于檢驗(yàn)鐵基底材料上的非磁性鍍層的厚度以及非
鐵基底材料上的鎳鍍層厚度大體上是一個(gè)支軸橫揉支持一個(gè)稍微懸空
的磁體，該磁體可以通過(guò)調(diào)整螺旋彈簧達(dá)到平衡測(cè)量時(shí)，磁體加負(fù)載
與鍍層接觸，借助于磁的吸引力使之固定，然后旋轉(zhuǎn)刻度盤(pán)后面的一
個(gè)臂，以調(diào)整計(jì)數(shù)器的平衡彈簧，直調(diào)到完全克服磁性吸引力為止記
下刻度盤(pán)的讀數(shù)，為了獲得一個(gè)可靠的平均讀數(shù)，必須反復(fù)操作幾次。
將此讀數(shù)再參考由一系列標(biāo)準(zhǔn)厚度試樣所作出的校準(zhǔn)曲線，查出所測(cè)
量的鍍層厚度。
使用這種設(shè)備主要是要注意保持磁頭清潔
平均厚度如前所述，可以使用“溶解一重量法”來(lái)確定渡層的平
均厚度，但質(zhì)量檢驗(yàn)實(shí)驗(yàn)室卻寧愿采用快速的非破壞性測(cè)量方法。毫
無(wú)疑問(wèn)，在大多數(shù)情況下，非破壞性測(cè)量方法完全可以作為檢驗(yàn)鍍層
厚度分布的標(biāo)準(zhǔn)方法。
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