---
---
---(點擊查看產品報價)
本文標題："焊點橫截面金相結構,熔深檢測顯微鏡"
新聞來源：未知 發布時間：2014-2-15 19:23:19 本站主頁地址：http://www.027toilet.cn
焊點橫截面金相結構,熔深檢測顯微鏡
板和焊點切開并磨光觀察金相結構
金相切片
破壞性分析方法
如果在推斷故障的原因中，采用非破壞性方法查不出
產生異常現象的原因時，就有必要采用破壞性方法來篩選
有問題的區域。這種方法就是斷層，即將器件、基板和焊點
切開并磨光后，觀察其橫切面。
一旦找出故障的原因，就可以利用所獲得的信息，來采取
妥當措施以防止這類問題再次發生。
斷層方法
(1)第一步:查找和“準確猜測”需要檢查的位置或區域。
如果認為不止一個區域有問題，那么，就需確定是否能夠逐
一探測到同一個器件上的這些區域。如果探測不到，
那么，就應根據查找出問題的可能性或需分析兩個以上的器件，
對這些區域按優先序排列。
(2)第二步:如果有問題的區域是較大組裝件的一部分，
就需要從較大的組裝件上將這部分切下來，并分隔成幾個小的
易于控制的部分。應注意的是，在切割過程中應保證樣品狀
態未改變或被毀。
對于重要剖而，需將樣品放在樹脂中進行模壓來減輕在斷層
過程中對樣品切割造成的破壞。
如果需要對重點區域進行精細拋光，那么，需對剖而的樣品在距
重點區域的界面留有一定的距離，以便為該界面的精細拋光留出
足夠的空問。
所有資料用于交流學習之用，如有版權問題請聯系，禁止復制,轉載注明地址
上海光學儀器一廠-專業顯微鏡制造商 提供最合理的顯微鏡價格
合作站點：http://www.sgaaa.com/顯微鏡百科