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本文標題："檢測多種元素能譜分析便攜圖像顯微鏡"
新聞來源：未知 發(fā)布時間：2020-7-21 8:58:19 本站主頁地址：http://www.027toilet.cn
檢測多種元素能譜分析便攜圖像顯微鏡
由于能譜分析法不用分)亡晶體，探測器的效應(yīng)在很寬的X射線波
長范圍內(nèi)接近于100％，而在波譜分析中，因為使用分光晶體，要損失
很大一部分x射線入射強度，另外使用能譜法，無需聚焦，便可以從較
大的試樣表面上甚至從相當粗糙的斷面上收集發(fā)射的特征x射線，因為
二譜法靈敏度高，所以，它特別適用探測弱X射線發(fā)射和波長較長的軟
X射線譜。此外，由于多道分析器可同時檢測多種元素，分析速寞快，
一般在2—3分鐘內(nèi)就能得出鈉以上元享的定性分析結(jié)果。并把全部有
用數(shù)據(jù)儲存或記錄下來，因此，x射線能譜分析法適用于快速定性和定
點分析。目前能譜分折法的分辨能力(即x射線光子的分辨能力)還遠不
如波譜分沂法的分辨能力高(即X射線波長的分辨能力)，且對輕元素分
聽靈敏度低，所以商品生產(chǎn)的儀器，只能測出原子序數(shù)(鈉)I以上的元
素，不能測更；輕的元素，這是它最大的缺點。因此，一般在定性和
定點分析肘用能譜法，超輕元素和精確定量分析用波譜法。不論上述
那種方法，它們都可在最終顯象管上顯爾出來，也可以通過x—y記錄
儀和電傳打字機記錄下來。
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