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本文標(biāo)題："應(yīng)用于研究巖石晶體的細(xì)微結(jié)構(gòu)的顯微儀器"
新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2014-3-14 21:49:36 本站主頁(yè)地址：http://www.027toilet.cn
應(yīng)用于研究巖石晶體的細(xì)微結(jié)構(gòu)的顯微儀器
能力的儀器。它通常由高壓電源、電子槍、電磁透鏡、樣品室、熒光
屏和真空系統(tǒng)等組成。
其工作原理與普通光學(xué)顯微鏡有些近似：電子槍發(fā)射的電子束仿
佛是光學(xué)顯微鏡使用的光源；電磁透鏡則相當(dāng)于光學(xué)透鏡。對(duì)于透射
電鏡來(lái)說(shuō)。
當(dāng)電子槍發(fā)射的電子束透過(guò)被測(cè)樣品時(shí)，經(jīng)電磁透鏡的作用就會(huì)
被放大，并透射在熒光屏上，為檢測(cè)者所看到。
整個(gè)系統(tǒng)均在真空中工作，放大倍率一般可達(dá)數(shù)萬(wàn)到數(shù)十萬(wàn)倍。
分辨率為10^-0.5 nm，高級(jí)的可達(dá)0. 1-0. 2 nm. 透射電子顯微
鏡由于具有很高的放大能力，因此它不僅可用于研究寶石中的微細(xì)包
體。
通過(guò)包體來(lái)鑒別寶石的成因；還可以用于研究寶石的細(xì)微結(jié)構(gòu)，
觀(guān)察晶體的形變、晶格位錯(cuò)等微觀(guān)特征。缺點(diǎn)是它是一種有損檢測(cè)，
研究用的樣品需要制成拋光薄片（厚度不超過(guò)100-200 nm）
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